大量程干法激光粒度分析儀

LAP-D2000干法激光粒度儀

LAP-D2000大量程干法激光粒度分析儀主要性能特點：

*的光路設計:

　　LAP-D2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測試能力。*的自動對中系統及電腦操作系統彰顯出LAP-D2000人性化設計。

高穩定光路優化：

　　*的設計讓LAP-D2000擁有了*的高穩定光路，它采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出激光器，優良的單色性讓LAP-D2000有了*的穩定性；主要光路采取了全封閉設計，保證了儀器在復雜環境長時間測試；高密度旋轉式探頭分布保證了LAP-D2000*的全量程無縫測試；

*的干法分散系統：

　　LAP-D2000分散系統在法國理論數據的基礎上進行了優化設計，使LAP-D2000對干粉的分散更加均勻，*的負壓保證了進料的連續性及均勻性，有效避免測試過程中干粉的相互粘連。

大量程干法激光粒度分析儀探測器：

　　LAP-D2000探測器采用了主探測器與副探測器相結合的全新設計，保證了儀器全量程內無縫探測，使測試更加準確。主探測器設計了自動對中系統，可實現儀器的一鍵自動對中，彰顯人性化設計。同時有效避免手動對中對探測器的損害，有效延長了儀器的使用壽命。

防塵、防震設計：

　　儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。

光路自動校對：

　　光路微變，儀器可以自行對光路進行調節。

管道無殘留：

　　測試完成后管道內無殘留樣品，不會對下次測試造成干擾。

計算機控制喂料：

　　測試人員可借助計算機控制儀器進料量。

主要技術參數：